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Laboratoire de Cristallographie et Sciences des Matériaux – UMR 6508

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Postdoctoral position – microelectronic SiC reliability at the device level by Atomic Force Microscope (AFM) (filled)

Desired start date of the thesis: 01-10-2023

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Auteur s.milhoudPublié le 23 mai 202322 janvier 2024Catégories Emploi

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